| Dokumenten Nummer: | ÖNORM EN ISO 9220 |
| Klassifikation: | ST* N |
| Preisgruppe: | FM=14 |
| Bezeichnung: | Metallische Überzüge - Messung der Schichtdicke - Verfahren mit Rasterelektronenmikroskop (ISO 9220:1988) |
| zitierte Normen: | II=ISO 9220 (1988) ,IDT* EN ISO 9220 (1994 10) ,IDT |
| ersetzte Normen: | RX=ÖNORM EN ISO 9220 (2022 06 01)* ÖNORM EN ISO 9220 (2022 06 01) |
| identische Norm: | AS= |
| Registriert als: | AD=Diese Internationale Norm legt ein Verfahren zur Messung der örtlichen Dicke metallischer Überzüge fest, in dem Querschnitte mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) untersucht werden. Es handelt sich um ein zerstörendes Verfahren, das eine Meßunsich |
| Autor: | Komitee 050 Beschichtungsstoffe |
| Referenz: | PQ=Preisgruppe 12 |
| übersetzt in: | de* en |
| english text: | Metallic coatings - Measurement of coating thickness - Scanning electron microscope method (ISO 9220:1988) |
| Description: | CT=Metallüberzug* Beschichtung* Überzug* Dickenmessung* Messung* Dicke* Prüfung* Prüfverfahren* Meßverfahren* Elektronenmikroskop* Begriffe* Terminologie* Prüfgerät* Prüfbericht* Kalibrierung* Rasterelektronenmikroskop* Messverfahren |
| francoise: | Revetements métalliques - Mesurage de l'épaisseur de revetement - Méthode au microscope électronique à balayage (ISO 9220:1988) |
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